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原位MEMS-STM-TEM多场测量系统
本站销售台式扫描电镜、透射电镜TEM样品杆、SEM样品台、及电子显微相关产品型号齐全,价格优惠,如本页面您未找到需要的产品,请直接联系我们15301310116(微信同号) 使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境(包括力、热、光、电等),从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。
性能指标 透射电镜指标: ● 兼容指定电镜型号及极靴; ● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);
电学测量指标: ● 包含一个电流电压测试单元; ● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程; ● 电流分辨率:优于100 fA; ● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V; ● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。
扫描探针操纵指标: ● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm; ● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um; ● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。
光纤指标: ● 多模光纤外径250 um,保证电镜系统真空指标; ● 可选光纤探针、平头光纤; ● 配备快速SMA接头、FC接头;
加热指标: ● 温度范围:室温到1000 ℃; ● 温度准确度优于 5% ; ● 温度稳定性:优于±0.1 ℃。 产品特色 可通过简单更换MEMS芯片种类以及不同STM探针为样品施加Z多四种激励,实现多种复杂的测试功能,完成以往无法实现的研究。 (1)高温拉伸/压缩(加热芯片+电学STM探针); (2)热电子发射/场发射(加热芯片+电学STM探针); (3)三端器件测量(电学芯片+电学STM探针); (4)电致发光现象研究(电学芯片+光学STM探针); (5)光电现象研究(电学芯片+光学STM探针)。 以上就是北京麦迪森科技有限公司提供的MEMS-STM-TEM多场测量系统,关于价格直接咨询。 温馨提示:如本页面您未找到需要的产品,详细咨询热线:15301310116
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