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原位MEMS-STM-TEM多场测量系统

本站销售台式扫描电镜、透射电镜TEM样品杆、SEM样品台、及电子显微相关产品型号齐全,价格优惠,如本页面您未找到需要的产品,请直接联系我们15301310116(微信同号)

使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境(包括力、热、光、电等),从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。

原位MEMS-STM-TEM多场测量系统-原位TEM样品杆 


性能指标
 

 透射电镜指标:

● 兼容指定电镜型号及极靴;

● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);

 

电学测量指标:

● 包含一个电流电压测试单元;

● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;

● 电流分辨率:优于100 fA;

● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;

● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。

 

扫描探针操纵指标:

● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;

● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;

● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。

 

光纤指标:

● 多模光纤外径250 um,保证电镜系统真空指标;

● 可选光纤探针、平头光纤;

● 配备快速SMA接头、FC接头;

 

加热指标:

● 温度范围:室温到1000 ℃;

● 温度准确度优于 5% ;

● 温度稳定性:优于±0.1 ℃。


产品特色

 可通过简单更换MEMS芯片种类以及不同STM探针为样品施加Z多四种激励,实现多种复杂的测试功能,完成以往无法实现的研究。

(1)高温拉伸/压缩(加热芯片+电学STM探针);

(2)热电子发射/场发射(加热芯片+电学STM探针);

(3)三端器件测量(电学芯片+电学STM探针);

(4)电致发光现象研究(电学芯片+光学STM探针);

(5)光电现象研究(电学芯片+光学STM探针)。


以上就是北京麦迪森科技有限公司提供的MEMS-STM-TEM多场测量系统,关于价格直接咨询。

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MEMS-STM-TEM多场测量系统


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