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透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统
本站销售台式扫描电镜、透射电镜TEM样品杆、SEM样品台、及电子显微相关产品型号齐全，价格优惠，如本页面您未找到需要的产品，请直接联系我们15301310116（微信同号） 透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
性能指标 透射电镜指标： ● 兼容指定电镜型号及极靴 ● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距） ● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标： ● 包含一个电流电压测试单元 ● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程 ● 电流分辨率：优于100 fA ● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V ● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存
扫描探针操纵指标： ● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm ● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um ● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm
低温参数指标： ● 兼容指定型号透射电镜及极靴 ● 全温区结构分辨率优于0.2 nm ● 变温范围为85 K-380 K，温度稳定性优于±0.1 K
产品特色 （1）温度连续可控，稳定性高 （2）低温下可实现对样品施加应力及电学研究 以上就是北京麦迪森科技有限公司提供的透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统，关于价格直接咨询。 温馨提示：如本页面您未找到需要的产品，详细咨询热线：15301310116
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